Multifunktions-Testsystem
Das Testsystem CATE-256FI ist für den Funktionstest und In-Circuit-Test (MDA) von elektronischen Boards, Systemeinheiten und mechatronischen Prüflingen konzipiert. Der Aufbau basiert auf NI PXI-Module, die individuell nach Applikations-Anforderung konfiguriert werden. Durch den modularen Aufbau können schnell und preisgünstig Erweiterungen realisiert werden. Das System ist als Standalone oder als In-Linie Version verfügbar. |
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Basis Konfiguration ► 19” Rack, 50HE, IP55 ► 19“ PXI – Rack, 4HE, 12 Slot ► PXI - RT Embedded Contoller ► PPSU Programmierbare Spannungsquelle ► PSU Festspannungsqelle ► PXI – DMM mit 7½ Stellen ► PXI – Funktions Generator ► PXI – Analogkarte ► PXI – Digital I/O parallel ► PXI – Relay- Matrix ► PXI – Relay 4x1 MUX ► G12 Virginia Panel Prüflingsschnittstelle |
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High Level Applikationen
Bei entsprechender Konfiguration kann das Testsystem auch im Bereich Luftfahrttechnik eingesetzt werden und wird so auch höchsten Ansprüchen gerecht.