Multifunktions-Testsysteme

Das Testsystem CATE-256FI ist für den Funktionstest und In-Circuit-Test (MDA) von elektronischen Boards, Systemeinheiten und mechatronischen Prüflingen konzipiert. Der Aufbau basiert auf NI PXI-Module, die individuell nach Applikations-Anforderung konfiguriert werden. Durch den modularen Aufbau können schnell und preisgünstig Erweiterungen realisiert werden. Das System ist als Standalone oder als In-Linie Version verfügbar.    

Basis Konfiguration

• 19” Rack, 50HE, IP55
• 19“ PXI – Rack, 4HE, 12 Slot
• PXI – RT Embedded Contoller
• PPSU Programmierbare Spannungsquelle
• PSU Festspannungsquelle
• PXI – DMM mit 7½ Stellen
• PXI – Funktions-Generator
• PXI – Analogkarte
• PXI – Digital I/O parallel
• PXI – Relay- Matrix
• PXI – Relay 4×1 MUX
• G12 Virginia Panel Prüflingsschnittstelle

High Level Applikationen

Bei entsprechender Konfiguration kann das Testsystem auch im Bereich Luftfahrttechnik eingesetzt werden und wird so auch höchsten Ansprüchen gerecht.